31.080.10. Диоды
ГОСТ 14343-69.
Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого примененияотменён
от: 01.08.2013
Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices
ГОСТ 15606-70.
Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого примененияотменён
от: 01.08.2013
Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices
ГОСТ 17465-80.
Диоды полупроводниковые. Основные параметрыдействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Basic parameters
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки)
ГОСТ 18986.0-74.
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положениядействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
ГОСТ 18986.0-74.
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положениядействующий
от: 22.03.2010
Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
ГОСТ 18986.1-73.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного токадействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
ГОСТ 18986.3-73.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого токадействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
ГОСТ 18986.3-73.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого токадействующий
от: 22.03.2010
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
ГОСТ 18986.4-73.
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкостидействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя мостовой метод частотный метод
ГОСТ 18986.5-73.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключениядействующий
от: 01.08.2013
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
01.01.2024
